近日，國家知識產權局公布第二十五屆中國專利獎獲獎名單（點擊閱讀原文），聚光科技攜旗下自主孵化子公司譜育科技憑《校正光譜漂移的方法及裝置》（專利號：ZL201610779281.4）榮獲中國專利優秀獎。

國家知識產權局公布第二十五屆中國專利獎獲獎名單

這是繼此前核心技術摘得中國專利金獎之后，聚光科技再次登榜我國專利領域最高榮譽，充分彰顯其在高端科學儀器領域持續攻克“卡脖子”難題、加速成果轉化的硬核實力。

聚光科技榮獲中國專利優秀獎

攻克技術難題

更穩定 也更省心

光譜漂移，曾是電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES）應用中的長期痛點。受溫度波動、元器件老化等因素影響，譜線位置易發生偏移，直接影響檢測結果可靠性。

傳統校準方式依賴人工操作或標準溶液校正，不僅效率低，也難以應對復雜工況下的實時校準需求。

針對這一行業難題，聚光科技從底層架構出發，創新性地提出了“校正光譜漂移的方法和裝置”這一系統化解決方案，實現了檢測前自動感知漂移狀態并實時精準修正，無需人工干預，適應性強、可靠性高。

對客戶而言，改變是真實可感的：

數據更穩定：檢測穩定性提升一倍，8小時RSD＜1%；

使用更省心：自動實時校準，應對瞬時變化無需操心。

Ba、Cu、Mn元素檢測信號8小時穩定性測試

自該專利成果應用以來，聚光科技已推動多款高性能光譜儀實現產品化落地，為用戶帶來更高穩定性與更低運維成本。

“以前定期都要對譜線進行手動校準，不僅繁瑣，校準液還要從廠家購買耗材。現在校正光路自動修正偏差，減少了人工干預?！薄?某省級環境保護科學研究院客戶反饋。

譜育科技電感耦合等離子體發射光譜儀應用于某省級環境保護科學研究院客戶

電感耦合等離子體發射光譜儀作為多元素定量分析的主力儀器，對靈敏度、穩定性與適應性的要求極高。聚光科技作為國內最早實現電感耦合等離子體發射光譜儀自主研發的廠商之一，圍繞關鍵核心部件同步攻堅。

其中，RF（射頻）源作為維持等離子體穩定運行的核心器件，直接關系到樣品適應性與數據穩定性。

聚光科技承擔國家重大科學儀器設備開發專項，系統攻關RF源技術，打破國外壟斷，成為國內唯一具備RF源自主研制能力的廠商，為國產光譜儀器的性能提升與可靠運行提供堅實支撐。

RF（射頻）源示意圖

國家重大科學儀器設備開發專項驗收結項現場

目前，聚光科技電感耦合等離子體發射光譜儀系列產品已廣泛應用于環境監測、鋰電材料、食品藥品、航空航天等核心領域，憑借性能穩定、適應性強等優勢，加速拓展海外市場，穩步進入歐洲、亞洲等多個重點地區，在國際高端光譜儀市場中持續增強競爭力。

夯實自主體系

不止當前 更向未來 

“校正光譜漂移的方法及裝置”是聚光科技在高端光譜儀器領域持續推進自主可控體系建設的重要成果之一。圍繞該項核心專利，公司在算法模型、光學結構、校準機制、控制系統等多個模塊形成協同創新，構建起貫穿產品全生命周期的知識產權網絡。

作為國家知識產權示范企業，聚光科技始終將原創技術與專利體系建設作為高質量發展的戰略支撐。公司在電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP-OES）、全譜直讀光譜儀（AES）、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）、傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）等多個產品線持續深耕，技術積累不斷夯實，為技術演進和應用拓展打下堅實基礎。

聚光科技部分衍生光譜技術平臺專利

聚光科技始終堅持以科技創新為驅動，聚焦主業、打造精品，持續推進關鍵核心技術攻關與專利體系建設，加快構建全球競爭力突出的國產高端科學儀器體系。

面向未來，公司將以更堅定的步伐，持續推動高端儀器國產化進程——

以持續創新，推動行業躍升；以中國方案，回應時代命題。